高靈敏度光譜儀適用于熒光測量

　　高靈敏度光譜儀適用于熒光測量、DNA測序、拉曼分析等領域的光譜分析和檢測，針對弱光環境。它是一種科學光譜儀，常用于熒光測量、DNA測序、拉曼分析等應用領域。具有高量子效率，其堅固的設計使其具有高信噪比性能和穩定性，可以通過選擇內部快門來優化暗噪聲的測量，可實現微光檢測，減少光譜誤差。具有重金屬痕量檢測能力，快速基本參數法提高了元素的準確定量水平。兩項核心技術的結合為XRF元素檢測帶來了新的應用前景。

　　

　　1、采用雙曲面曲面晶體單色器優化元素激發效率，降低X射線管的連續散射射線背景，提高元素熒光射線的信噪比。

　　

　　2、硅漂移探測器（SDD）是能量色散X射線熒光光譜儀的核心部件，其性能取決于晶體面積、窗口材料、計數率、分辨率等。

　　

　　3、高靈敏度光譜儀XRF分析的難點在于元素的熒光強度不僅與樣品中元素的含量有關，還與其他元素的含量有關，即所謂的基質吸收增強效應。這種物理效應使得選擇合適的標準樣品變得困難。如果選擇的標準樣品基質不一致，不能覆蓋待測樣品中各元素的含量范圍，會給實際樣品分析帶來誤差。基本參數法通過計算從X射線熒光光譜產生到檢測的各個環節，建立相應的數學模型。基本參數法消除了因不同類型樣品的基體差異而引起的背景差異，減少了分析誤差，通過少量標準樣品的校正，獲得了更準確的元素定量結果。

　　

　　4、優化鎘的檢測能力。鎘是一種有毒的重金屬，在環境保護和食品安全領域備受關注。常規XRF對鎘的影響很小（kα：23.1kev）是激發和檢測的挑戰。通過鎘的單色聚焦激發，高靈敏度光譜儀對鎘的檢出限達到0.06mg/kg。